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芯片的制造过程可概分为:晶圆处理工序(Wafer Fabrication)、晶圆针测工序(Wafer Probe)、封装工序(Packaging)、测试工序(Initial Test and Final Test)等几个步骤。
其中晶圆处理工序和晶圆针测工序为前段(Front End)工序,而封装工序、测试工序为后段(Back End)工序。
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